| Profesorado |
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| Programa | Aproximación de masa efectiva y densidad de estados.Interfases semiconductoras.Dispositivos formados por multicapas semiconductoras. |
| Objetivos | El propósito de esta asignatura es dotar al alumno de los conocimientos necesarios para entender los fundamentos de diversos dispositivos semiconductores. |
| Bibliografía |
- "SEMICONDUCTORS". R.A. Smith Cambridge University Press, 1978
- "Semiconductor Devices: Physics and Technology". S. M. Sze John Wiley and Sons
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| Metodología | La impartición de esta asignatura se realizará mediante la docencia teórica con posibilidades de realizar alguna práctica con ordenador. |
| Evaluación | El alumno será evaluado mediante la realización de un trabajo sobre los contenidos de la asignatura y tutorizado por los profesores. |
| Requisitos | Conceptos básicos de Física del Estado Sólido |
| Observaciones | |
| Página Web | |
| Horario |
Clases:
- Lunes 25/
02/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Sistemas dinámicos no lineales: aplicaciones en ingenieria y sistemas naturales)
- Viernes 29/
02/
2008 de
12:00 a
14:00
- Lunes 03/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Teledetección de la Tierra, Transferencia radiativa en la Atmósfera)
- Martes 04/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Modelización físico-ambiental a escala reducida, Teledetección de la Tierra, Transferencia radiativa en la Atmósfera)
- Lunes 10/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Teledetección de la Tierra)
- Martes 11/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
- Lunes 24/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
- Martes 25/
03/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados, Sistemas dinámicos no lineales: aplicaciones en ingenieria y sistemas naturales)
- Jueves 03/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
- Viernes 04/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
- Lunes 07/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
- Martes 08/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados)
- Jueves 17/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
- Viernes 18/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
(Colisiona con:
Técnicas de Caracterización Óptica de Materiales)
- Jueves 24/
04/
2008 de
12:00 a
14:00
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